Technologies for Synthetic Environments: Hardware-in-the-Loop Testing X

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Murrer, R. Lee
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 5/20/05
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars