Nano- and Micro-Metrology

Библиографические подробности
Другие авторы:	Ottevaere, Heidi
Формат:	Электронный ресурс eКнига
Язык:	английский
Опубликовано:	SPIE Digital Library, 8/18/05
Предметы:	Conference papers and proceedings.
Online-ссылка:	Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Internet