Duparré, A. Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Duparré, Angela. Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Duparré, Angela. Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies II. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..