Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Tanner, Danelle
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 1/21/06
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Benzer Materyaller