Geer, R. Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Geer, Robert. Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Geer, Robert. Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.