Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Geer, Robert
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 3/16/06
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ejemplares similares