Hartzell, A. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VI. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Hartzell, Allyson. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VI. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Hartzell, Allyson. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VI. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.