Hartzell, A. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII. SPIE Digital Library.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Hartzell, Allyson. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII. SPIE Digital Library.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Hartzell, Allyson. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII. SPIE Digital Library.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.