Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII

Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill: Hartzell, Allyson
Fformat: Electronig eLyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: SPIE Digital Library, 2/19/08
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Eitemau Tebyg