Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing II

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Postek, Michael
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 8/28/08
Subjects:
Acceso en liña:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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