Kullberg, R. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Kullberg, Richard. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Kullberg, Richard. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.