APA (7. basım) Alıntı

Allgair, J. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIII. SPIE Digital Library.

Chicago Style (17. basım) Atıf

Allgair, John. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIII. SPIE Digital Library.

MLA (9th ed.) Atıf

Allgair, John. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIII. SPIE Digital Library.

Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..