Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Kullberg, Richard
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 2/4/10
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars