Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Gaither
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (ACM)

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