Anar al contingut
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Avançada
  • Tests, Measurements, and Chara...
  • Citar
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Imatge de la portada

Tests, Measurements, and Characterization of Electro-Optic Devices and Systems

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Wadekar, Shekhar
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 1/23/90
Matèries:
Conference papers and proceedings.
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Internet

Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars

  • Automated Testing of Electro-Optical Systems
  • Electro-Optical System Design, Simulation, Testing, and Training
  • The Infrared & Electro-Optical Systems Handbook, Vol. 4: Electro-Optical Systems Design, Analysis, and Testing
    per: Dudzik, Michael C.
  • Advances in Optical Beam Characterization and Measurements
  • Test and Measurement Applications of Optoelectronic Devices

Opcions de cerca

  • Historial de cerca
  • Cerca avançada

Trobar-ne més

  • Explorar el catàleg
  • Explorar alfabèticament
  • Explora canals
  • Bibliografia recomanada
  • Nous ítems

Necessites ajuda?

  • Consells de cerca
  • Pregunteu al bibliotecari
  • FAQs