Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Submicrometer Lithographies for Manufacturing

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Peckerar, Martin
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 8/1/91
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars