8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics
| مؤلفون آخرون: | |
|---|---|
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
SPIE Digital Library,
1/1/16
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |