Second International Conference on Testing Technology and Automation Engineering (TTAE 2022)

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Yue, Yang
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 1/1/65
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak