Second International Conference on Testing Technology and Automation Engineering (TTAE 2022)

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Yue, Yang
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 1/1/65
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր