Second International Conference on Testing Technology and Automation Engineering (TTAE 2022)

Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Yue, Yang
Format: Elektronski eKnjiga
Jezik:angleščina
Izdano: SPIE Digital Library, 1/1/65
Teme:
Online dostop:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne knjige/članki