X-Ray Free-Electron Lasers: Beam Diagnostics, Beamline Instrumentation, and Applications II

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Hau-Riege, Stefan
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 9/22/14
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים