Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Shahriar, Selim
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 3/19/20
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia