Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Shahriar, Selim
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: SPIE Digital Library, 3/19/20
Sujets:
Accès en ligne:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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