Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Shahriar, Selim
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 3/19/20
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Gelijkaardige items