Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Shahriar, Selim
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 3/19/20
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy