Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VII

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Han, Sen
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 11/11/20
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր