Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Bibliografski detalji
Daljnji autori: Shahriar, Selim
Format: Elektronički e-knjiga
Jezik:engleski
Izdano: SPIE Digital Library, 4/15/19
Teme:
Online pristup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Slični predmeti