Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Shahriar, Selim
Formato: Recurso Eletrônico livro eletrônico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 4/15/19
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Registros relacionados