Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Shahriar, Selim
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 4/15/19
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים