Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Shahriar, Selim M.
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 1/1/19
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים