Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Opis bibliograficzny
1. autor: Shahriar, Selim M.
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 1/1/19
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy