Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Bibliografiska uppgifter
Huvudskapare: Shahriar, Selim M.
Materialtyp: Elektronisk E-bok
Språk:engelska
Publicerad: SPIE Digital Library, 1/1/19
Ämnen:
Länkar:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Liknande verk