Optical Technology and Measurement for Industrial Applications Conference

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Hatsuzawa, Takeshi
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 4/21/19
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy