Standards for Electronics Imaging Technologies, Devices, and Systems: A Critical Review

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Nier, Michael
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 1/1/96
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy