Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Shea, Herbert
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 3/19/14
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים