Modeling Aspects in Optical Metrology IV

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Bodermann, Bernd
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 5/13/13
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak