Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
SPIE Digital Library,
2/11/11
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |