Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: García-Blanco, Sonia
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: SPIE Digital Library, 2/11/11
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
الوصف
وصف المادة:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
وصف مادي:1 online resource
التنسيق:Mode of access: Internet
ردمك:9780819484659
وصول:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students