Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: García-Blanco, Sonia
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 2/11/11
Schlagworte:
Online-Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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