Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X
| Weitere Verfasser: | |
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| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
SPIE Digital Library,
2/11/11
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |