Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Postek, Michael
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: SPIE Digital Library, 6/9/11
Sujets:
Accès en ligne:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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