Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Postek, Michael
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 6/9/11
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy