Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors V

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Postek, Michael
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 9/19/11
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր