Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis II

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Keshavarzi, Ali
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 9/12/96
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια