Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VII

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Batchelor, Bruce
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 10/6/98
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia