Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VII

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Batchelor, Bruce
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 10/6/98
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր