Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VII

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Batchelor, Bruce
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 10/6/98
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy