Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VII

Библиографические подробности
Другие авторы: Batchelor, Bruce
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 10/6/98
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожие документы