In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing
| Այլ հեղինակներ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային էլ․ գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
SPIE Digital Library,
4/27/99
|
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Նյութի նկարագրություն: | <strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong> |
|---|---|
| Ֆիզիկական նկարագրություն: | 1 online resource |
| Ձևաչափ: | Mode of access: Internet |
| ISBN: | 9780819432230 |
| Հասանելի: | Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students |