Recent Advances in Metrology, Characterization, and Standards for Optical Digital Data Disks

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Podio, Fernando
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 11/30/99
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy